電子元器件外觀缺陷檢測裝置 專利號:201320609021. 4
磁芯上料裝置 專利號:201320693503.2
軸的同軸度檢測機構 專利號:201520019025.6
軸的同軸度檢測裝置 專利號:201520019056.1
一種磁芯自動分裝設備 專利號:201310249170.9
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